Mass Interconnect Archieven - Pagina 2 van 2 - DFT - MG-Products Electronic Test Solutions..

Oversized EMI Backshell for iCon 2 Module ITA.

The iCon XL Een belangrijke upgrade van de Virginia Panel Corporation iCon familie Mass Interconnect connectoren, waarbij door de introductie van de iCon XL nu ook, voor oplossingen waarbij veel power en coaxiaal contacten worden gebruikt, voldoende ruimte is om deze te integreren.De iCon XL biedt een extra grote U-vormige kabelklem welke bedrading van de modules vooraf mogelijk maakt en ruimte biedt aan kabelbundels tot een effectieve diameter van 49,5mm bij een effectieve buigradius van ruim 25mm. De beschermkap kan, net als bij de reguliere uitvoeringen eenvoudig naar voren worden afgeschoven voor eenvoudig contact met de bekabeling voor debug…

Lees verder

iDock, Reliable Docking connector from VPC.

Automatic iDock, Docking Connectors. VPC is extending its portfolio with two new automatic iDock docking connectors: the D1 and the D3/D4. Both connectors feature an engageless frame for use with automatic test handling equipment to mate test adapters. Automatic docking connectors reduce the time it takes to test, making them an ideal solution for production or manufacturing environments. It also minimises operator interaction, which reduces the opportunity for error. High Speed PCB solution for USB-3 applications A robust and reliable hybrid interface, particularly suited to manufacturing and product test application, the iDock Series offers reliable transmission options for signal, power,…

Lees verder

VPC 90 series front view of 9025 Mass Interconnect receiver (test system side)

VTAC Mass interconnect interface Patchcords

USB-C Patchcord Een veel gebruikte interface is tegenwoordig de USB-C interface. Deze interface wordt steeds vaker ook gebruikt als communicatie interface in moderne meetinstrumenten maar ook in steeds meer nieuw ontwikkelde applicaties. Hierdoor was de noodzaak aanwezig om ook een USB-C patchcord toe te voegen aan het bestaande, beschikbare pallet van Mass Interconnect patchcords. Mass Interconnect Interface. Een Mass Interconnect Interface van VPC is haast een vanzelfsprekende toevoeging aan een test rack als betrouwbaarheid en flexibiliteit en modulariteit van belang zijn bij het ontwikkelen van de testapplicatie. Om een Mass Interconnect Interface te verbinden met de in het test…

Lees verder

6TL FastATE In-Line Test Handlers.

Optimize & shorten your production-test, using 6TL FastATE In-Line Test Handlers. (Case Study) 6TL32 FastATE In-Line Test Handlers for ICT Test, In a world where electronics play a vital role, ensuring the quality and efficiency of printed circuit boards (PCBs) has become crucial. Conducting In-Circuit tests is essential to identify potential faults in components and ensure the proper functioning of electronic devices. This case study focuses on an electronics manufacturing company facing significant challenges in conducting in-circuit tests efficiently and accurately. Download 6TL36 in-line Brochure Test requirements. An ICT (In-Circuit Test) is a testing method used in the manufacturing…

Lees verder

VPC VTAC, Flexibele connectoren tot 12Gbs data transfer.

Introductie VPC VTAC SIM lijn. Virginia panel Corporation, VPC, wereld marktleider in Mass Interconnect systemen voor test en measurement oplossingen heeft een nieuw product gelanceerd (VPC VTAC) voor High Speed data transfer door een connector of Mass interconnect interface. Deze "Snap-In-Modular (SIM) right angle insert" zijn volledig compatibel met de in 2015 geïntroduceerde VPC VTAC SIM High Speed Data (HSD) inserts, dit betekend dat deze nieuwe inserts dezelfde eigenschappen als stapelbaarheid, hoge datasnelheden en vrij configureerbaar combineert met een draadloos printplaat ontwerp. VPC VTAC High Speed PCB Contacts. De SIM VTAC HSD is er nu ook een een haakse…

Lees verder

Hoe belangrijk is een goede tester interface?

Een tester interface tussen uw meetelektronica en de UUT (Unit Under Test) is vaak een onderbelicht en onderschat onderwerp tijdens het bouwen en ontwikkelen van een testsysteem. Meer informatie over testfixtures. In ieder testsysteem beschikt over een tester interface welke de verbinding tot stand brengt tussen de meetinstrumenten en datgene dat u ermee wilt testen. Om contact te maken met een printplaat die getest dient te worden na assemblage of voor reparatie wordt vaak gebruik gemaakt van een zogenaamde testmal. In de testmal ook we testfixture genoemd wordt via verende contactpennen (testprobes) contact gemaakt met de testposities op de…

Lees verder

High Speed Data Connection Solution.

NEW VTAC High Speed Data (HSD) Solution! VTAC Contactpair Vandaag de dag zien we meer en meer toepassingen van hoge tot zeer hoge dataoverdracht snelheden (High Speed Data) tussen modules onderling of met een netwerk, gedreven door de industrie voor bijvoorbeeld onbemande vliegtuigen, commerciële drones, high-tech medische robots, elektrische voertuigen, smart devices, Consumenten elektronica, video en data transmissie, "The Internet off Thinks" "Big Data" etc. Er worden dus steeds hogere eisen gesteld aan kabels en connectoren. Als zo'n connector maar een paar keer zou worden gebruikt is dit vaak nog niet zo'n probleem maar zodra de connector onderdeel uitmaakt…

Lees verder

Eliminating cabling in ATE makes sense.

Minimising cabling in Automatic Test Equipment does make sense! When designing ATE’s for Printed Circuit board or module testing, short signal lengths has always been an important factor in making your ATE more stable and reliable. If you are building a functional ATE then good quality cabling is even more important, due to the more complex signals to be measured.With new technologies that work with higher data rates and need more bandwidth, cabling can become even a major problem in the quality or stability of your test system. In this newsletter we like to show you a way to minimise cabling…

Lees verder

VPC 90 series front view of 9025 Mass Interconnect receiver (test system side)

VPC 50GHz RF Coax Contacten en Patchcords.

Mass interconnect is een must voor betrouwbare testsystemen. Een slecht contact tussen de meetinstrumentatie en uw te meten of te testen product kan direct leiden tot ongewenste afkeur en zeker bij hogere frequenties tot onnodige hoge kosten. Door de steeds verder voortschrijdende techniek waarbij steeds hogere frequenties en datasnelheden de standaard worden is het vanzelfsprekend dat naast een betrouwbaar contact ook een minimaal verlies in de bekabeling van groot belang is.

Lees verder

SMART testsystems (LEGO Approach)

Smart test systems, ready for the future. The world as we know it today has been going through three major technological revolutions. After the first Industrial Revolution, beginning in Great Britain at the end of the 18th century and ending in the mid-19th century, moving from an agrarian economy to the introduction of mechanical production methods, and the second Industrial revolution moving from the industrial production and the birth of the factory at the start of the 20th century introducing an age of affordable consumer products for mass consumption. In the late 1960s the third industrial revolution added the use of electronics and IT in industrial…

Lees verder