Klant komt overeen met zone 'Nederland'
“ECT Probe BIP-1” is toegevoegd aan je winkelwagen. Bekijk winkelwagen
ECT Probe BIP-2
€ 1,68 Excl.
358 op voorraad (kan nabesteld worden)
- Proven designs
- Varying package dimensions
- Medical/defense/ruggedized industrial application
Niet zeker welke Probe-Tip (-kop) voor u de meest geschikte is, kijk dan hier!
VERENDE TESTPENNEN (Test Probes) Om een geassembleerd printpaneel betrouwbaar te kunnen testen is een 100 % betrouwbare elektrische interface tussen tester en printpaneel een must.
Als contactmedium tussen print en tester worden daarom verende testpennen toegepast die in een z.g.n pennenbed, Testfixture of testmal worden gemonteerd.
DFT levert een uitgebreid programma aan hoogwaardige verende testpennen van het fabricaat ECT, in het Engels Probes genoemd.
Beschrijving
| Electrical | Current Rating (Amps): 5 Average Probe Resistance (mOhm): 30 |
||
|---|---|---|---|
| Materials & Finishes | Barrel Material: Work-hardened Nickel Silver, Gold plated over hard Nickel Plunger Material: Heat-treated BeCu, Gold plated over hard Nickel |
||
| Spring Material |
|
||
| Mechanical | Test Center (mil): 75 Test Center (mm): 1.91 Full Travel (mil): 50 Full Travel (mm): 1.27 Recommended Travel (mil): 50 Recommended Travel (mm): 1.27 Mechanical Life (no of cyles): 1,000,000 Overall Length (mil): 365 Overall Length (mm): 9.27 |
||
| Thermal | Min Operating Temp (°C): -55 Max Operating Temp (°C): 150 |
Wees de eerste om “ECT Probe BIP-2” te beoordelen
Beoordelingen
Er zijn nog geen beoordelingen.