Beschrijving

De MG00 Vacuum Test fixture oplossing van DFT.

Door de huidige standaarden in de moderne elektronica is het belangrijk de kwaliteit te waarborgen met nauwkeurig , elektronisch testen. Betrouwbaar contact tussen testapparatuur en het te testen product (UUT, Unit Under Test) is essentieel.
Voor ICT test toepassing en de daarbij veelal hoge aantal testprobes, zijn vacuum fixtures ideaal, hiervoor levert MG-Products haar GPV MG00 vacuum testfixture kits.

DFT – MG-Products heeft speciaal voor ICT testsystemen of als stand alone oplossing, een serie lineaire testadapters ontwikkeld: de MG00-serie testadapters.
De betrouwbaarheid en nauwkeurigheid van een testadapter wordt sterk bepaald door de mechanische constructie. Daarom maakt MG Products gebruik van massieve aluminium onderdelen voor al haar mechanische en vacuum testfixtures.

De MG-Products vacuümtestopstellingen zijn geschikt voor het contacteren van elektronische onderdelen met een groot volume en een klein aantal verschillende bestukking varianten (low mix – high volumes).De volgende vacuümtestopstellingen zijn verkrijgbaar als zelfstandig systeem zonder verwisselbare uitwisselbare kit en met optioneel leverbaar, testsysteeminterface zoals de G12 interface van VPC. Deze adapters zijn geschikt voor enkelzijdige, single stage of dual stage contacteren en worden aangesloten op een bestaand testsysteem.

Het contacteren van de UUT met testprobes kan gelijktijdig van zowel de boven- als de onderzijde worden voorzien. Optioneel is het contacteren van standaard connectoren of interface connectoren als USB, LAN, HDMI etc. ook via de boven onder en zelfs automatisch via de zijkant mogelijk. (Vraag DFT naar de mogelijkheden.)

Zogenaamde “wireless probing” met behulp van receptacles (hulzen waarin de probes worden geplaatst) welke aan het uiteinde geen soldeer of wirewrap aansluiting maar een verende testprobe bevatten, behoort ook te de mogelijkheden, hierdoor bereikt u de meest stabiele verbinding tussen de UUT en de meetelektronica. (Vraag DFT naar de mogelijkheden).
Onder In de ruime, ergonomische behuizing kan eventueel additioneel meetelektronica worden geplaatst. De achter- en onderzijde van de behuizing kan worden aangepast aan de verschillende testsysteem interfaces.

KENMERKEN

• Robuust ontwerp
• Stand-alone systeem uitgevoerd met een vaste platenset
• Stalen onderkast met uitneembare Aluminium achterplaat en onderplaat welke geschikt gemaakt kan worden voor ICT testsystemen.
• Beschikbaar voor Teradyne, Kesight, DigitalTest en andere ICT testsystemen
• Optioneel kan deze fixture worden uitgevoerd met een zogenaamd dual stage optie
• Leverbaar in verschillende afmetingen en formaten
  • MGV-02 – max UUT afmetingen 345 x 215 mm – maximale totale testprobe druk 9000 N (+/- 4500 testprobes)
  • MGV-07 – max UUT afmetingen 535 x 440 mm – maximale totale testprobe druk 22000 N (+/- 11000 testprobes)
  • MGV-04 – max UUT afmetingen 670 x 380 mm – maximale totale testprobe druk 24000 N (+/- 12000 testprobes)