6TL-24 combinatie tester voor ICT en FCT.
fastATE Modularity all the way DFT - MG-Products, introduceert de 6TL24 dual-stage combinatie tester. Een combinatie tester is in staat om zowel In-Circuit (ICT), Boundary-Scan (B-Scan) en Functionele testen (FCT) in één testsysteem samen te brengen en te combineren door gebruik te maken van zogenaamde " Dual Stage" testfixture technologie. Evolutie in Test, de 6TL-24 Voor het testen van elektronica moet vaak de keuze worden gemaakt welke testen er belangrijk zijn om uw ontwerp goed te kunnen testen en met de juiste testdekking. Afhankelijk van de markt waarin uw ontwerp gebruikt gaat worden kan dit zijn een ICT (In-Circuit)…