iDock, new Docking connector from VPC.

Automatic iDock Docking Connectors. VPC is extending its portfolio with two new automatic iDock docking connectors: the D1 and the D3/D4. Both connectors feature an engageless frame for use with automatic test handling equipment to mate test adapters. Automatic docking connectors reduce the time it takes to test, making them an ideal solution for production or manufacturing environments. It also minimises operator interaction, which reduces the opportunity for error. High Speed PCB solution for USB-3 applications A robust and reliable hybrid interface, particularly suited to manufacturing and product test application, the iDock Series offers reliable transmission options for signal, power,…

Lees verderiDock, new Docking connector from VPC.

Eliminating cabling in ATE makes sense.

Minimising cabling in Automatic Test Equipment does make sense!  When designing ATE’s for Printed Circuit board or module testing, short signal lengths has always been an important factor in making your ATE more stable and reliable. If you are building a functional ATE then good quality cabling is even more important, due to the more complex signals to be measured. With new technologies that work with higher data rates and need more bandwidth, cabling can become even a major problem in the quality or stability of your test system. In this newsletter we like to show you a way to minimise…

Lees verderEliminating cabling in ATE makes sense.

6TL-24 combinatie tester voor ICT en FCT.

Romex, introduceert de nieuwe 6TL-24 combinatie tester. Een combinatie tester is in staat om zowel In-Circuit (ICT), Boundary-Scan (B-Scan) en Functionele testen (FCT) in één testsysteem samen te brengen en te combineren door gebruik te maken van zogenaamde " Dual Stage" testfixture technologie. Voor het testen van elektronica moet vaak de keuze worden gemaakt welke testen er belangrijk zijn om uw ontwerp goed te kunnen testen en met de juiste testdekking. Afhankelijk van de markt waarin uw ontwerp gebruikt gaat worden kan dit zijn een ICT (In-Circuit) test, een ICT in combinatie met BScan (Boundary Scan) test, of een…

Lees verder6TL-24 combinatie tester voor ICT en FCT.

VPC VTAC, Flexibele connectoren tot 12Gbs data transfer.

Introductie VPC VTAC SIM lijn. Virginia panel Corporation, VPC, wereld marktleider in Mass Interconnect systemen voor test en measurement oplossingen heeft een nieuw product gelanceerd (VPC VTAC) voor High Speed data transfer door een connector of Mass interconnect interface. Deze "Snap-In-Modular (SIM) right angle insert" zijn volledig compatibel met de in 2015 geïntroduceerde VPC VTAC SIM High Speed Data (HSD) inserts, dit betekend dat deze nieuwe inserts dezelfde eigenschappen als stapelbaarheid, hoge datasnelheden en vrij configureerbaar combineert met een draadloos printplaat ontwerp. VPC VTAC High Speed PCB Contacts. De SIM VTAC HSD is er nu ook een een haakse…

Lees verderVPC VTAC, Flexibele connectoren tot 12Gbs data transfer.
Lees meer over het artikel fastATE Test offers true flexibility.
fastATE Modularity all the way

fastATE Test offers true flexibility.

fastATE, True flexibility in test. Functional TestFixture Since many years testing your printed circuit boards (PCB’s) is typically done on a bed of nails type of test fixture. The spring loaded testprobes make contact to the printed circuit board and are individually wired via switches to measurement instrumentation. A software developed test sequence will measure al the required points one by one to determine if your PCB is good or faulty. With fastATE test we are not changing this concept but enhancing this process greatly by taking out many of the typical mistaces made in the design and build…

Lees verderfastATE Test offers true flexibility.

i2-MX configureerbare Multi connector.

i2-MX Multi - Connector.  De Nieuwe veelzijdige oplossing voor het verbinden van een combinatie van HF signalen, power signalen en gewone I/O’s in een connector is nu beschikbaar met de nieuwe i2-MX  multi connector van VPC. Virginia Panel Corporation is wereldwijd marktleider in zogenaamde Mass Interconnect oplossingen voor testsystemen. Met deze nieuwe i2-MX testconnector wordt het voor iedere testengineer mogelijk een interface of connector samen te stellen die zowel signalen tot 12.5 Gbps als coax verbindingen tot 3GHz, power tot 20Amp per contact en standaard I/O tot 7Amp en 10MHz per contact gecombineerd in een enkele connector kan samenbrengen.…

Lees verderi2-MX configureerbare Multi connector.

YAV90059 multiplexer volledig Configureerbaar.

De configureerbare YAV90059 multiplexer van 6TL Engineering. Deze multiplexer is speciaal ontwikkeld voor gebruik in test en meetsystemen. De YAV90059 configureerbare multiplexer is onderdeel van het 6TL fastATE concept. Een concept wat is ontwikkeld speciaal voor iedereen die een testsysteem wil gaan ontwikkelen. Met fastATE is iedere engineer in staat een testsysteem te ontwikkelen en te bouwen, of te laten bouwen, in een zeer korte tijd, zonder dat er concessies hoeven te worden gedaan aan de betrouwbaarheid, flexibiliteit, modulariteit en herbruikbaarheid van alle modules. Door de geïntegreerde Mass Interconnect Module (510150130) van VPC is deze YAV90059 direct te monteren…

Lees verderYAV90059 multiplexer volledig Configureerbaar.

SMART testsystems (LEGO Approach)

Smart test systems, ready for the future. The world as we know it today has been going through three major technological revolutions. After the first Industrial Revolution, beginning in Great Britain at the end of the 18th century and ending in the mid-19th century, moving from an agrarian economy to the introduction of mechanical production methods, and the second Industrial revolution moving from the industrial production and the birth of the factory at the start of the 20th century introducing an age of affordable consumer products for mass consumption. In the late 1960s the third industrial revolution added the use of electronics and IT in industrial…

Lees verderSMART testsystems (LEGO Approach)

Hoe belangrijk is een goede tester interface?

Een tester interface tussen uw meetelektronica en de UUT (Unit Under Test) is vaak een onderbelicht en onderschat onderwerp tijdens het bouwen en ontwikkelen van een testsysteem. In ieder testsysteem beschikt over een tester interface welke de verbinding tot stand brengt tussen de meetinstrumenten en datgene dat u ermee wilt testen. Om contact te maken met een printplaat die getest dient te worden na assemblage of voor reparatie wordt vaak gebruik gemaakt van een zogenaamde testmal. In de testmal ook we testfixture genoemd wordt via verende contactpennen (testprobes) contact gemaakt met de testposities op de printplaat. Doordat de printplaat…

Lees verderHoe belangrijk is een goede tester interface?

High Speed Data Connection Solution.

NEW VTAC High Speed Data (HSD) Solution! VTAC Contactpair Vandaag de dag zien we meer en meer toepassingen van hoge tot zeer hoge dataoverdracht snelheden (High Speed Data) tussen modules onderling of met een netwerk, gedreven door de industrie voor bijvoorbeeld onbemande vliegtuigen, commerciële drones, high-tech medische robots, elektrische voertuigen, smart devices, Consumenten elektronica, video en data transmissie, "The Internet off Thinks" "Big Data" etc.  Er worden dus steeds hogere eisen gesteld aan kabels en connectoren. Als zo'n connector maar een paar keer zou worden gebruikt is dit vaak nog niet zo'n probleem maar zodra de connector onderdeel uitmaakt…

Lees verderHigh Speed Data Connection Solution.